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射頻導納物位計

發布時間:2013-03-11  被瀏覽次數:

概述
射頻導納式物位控製器
利用高頻技術,由電子線路產生一個小功率射頻信號於探頭上,探頭作為敏感元件,將來自物位介電常數引起的信號變化反饋給電子線路;由於這些變化包括電容量和電導量的變化,因而電子線路處理的是容抗和阻抗的綜合變化信號;進行處理後改變繼電器的輸出狀態。它是在原電容測量的基礎上改進為射頻導納測量技術,代表了當今物位測量的新水平。 
技術參數
1、探頭長度:≦4.2m,纜式≦35m
2、測量原理:阻抗、容抗綜合測量,射頻導納技術
3、輸出形式:HSN-K型,控製器開關信號
ZHHSN-1型,變送器,4~20mA 
ZHHSN-2智能型,4~20mA /帶HART協議
4、工作壓力:≦6.3Mpa
5、介質溫度:≦800℃
6、防爆等級:Exd II BT4,Exia II CT5
7、防護等級:IP66
8、材質:各種牌號不鏽鋼,聚四氟乙烯
9、連接方式:NPT螺紋:3/4″、1-1/2″、1-1/4″、法蘭DN40
10、安裝方式:頂裝、側裝

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